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Terahertz-Scanner untersucht aktive Halbleiter kontaktlos

Forscher bilden den p-n-Übergang von Halbleitern im Betrieb und durch das Gehäuse hindurch ab, bisher jedoch nur bei groben Strukturen.

https://www.heise.de/news/Terahertz-Scanner-untersucht-aktive-Halbleiter-kontaktlos-11262760.html
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